万深SC-X型小麦品质分析和面粉麸星检测仪

仪器由光学成像系统、智能分析软件、电子天平组成。具有卓越的自学习能力，实现人性化的“一键”式智能分析，并可交互修正个别的分类错误点，以达到100%正确分类结果。由专业软件分析成像后的彩色图像，准确、快速地测定小麦的粒数、千粒重、籽粒形状、籽粒整齐度、籽粒饱满度、籽粒颜色、霉变率、破损率、虫蚀率等指标，以及面粉中的麸星粒数和大小、麸星面积比和对应的砂石占比。面粉白度采用标准白自动比色法检测。软件能让用户实时看到真实样品分析过程情况；当面粉指标偏离设定参数时，可报警显示；用户可随意查询检测结果，并打印。所有测试图像分析结果和数据可在电脑上显示并保存。数据准确可靠，结果稳定、重复性高；样品可重复测试，重现性高。