XRF台式镀层测厚仪X-Strata920

结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，确保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟。在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。配有各种材料筛选应用的校准包，预装了超过800种应用参数/方法。具有先进的系统安全性的特点，为日常操作员设定简单的用户界面，而管理员级别可进入系统进行维护，并通过自动锁定功能防止未授权的操作。改进的报告功能允许几秒内将结果导出到Excel表格和创建自定义报告，包括统计数据分析和样品图象。