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Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?

2023/05/05 14:15

阅读:126

分享:
应用领域:
电子/电气
发布时间:
2023/05/05
检测样品:
信息技术类设备
检测项目:
AOI检测 成像质量检测
浏览次数:
126
下载次数:
参考标准:

方案摘要:

内行一看就懂: Enlitech的SG-A量子效率检测与传统CIS缺陷检测有何不同?

产品配置单:

分析仪器

光焱科技SG-A CMOS图像传感器测试仪

型号: SG-A

产地: 上海

品牌: 光焱科技

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方案详情:


CMOS 图像传感器测试仪

SG-A

快速安装和快速部署可以帮助您加快上市时间

   SG-A 系统是世界上第一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供最全面的 CMOS 图像传感器参数表征,如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角 CRA。被测设备可以是几种类型的 CMOS 图像传感器模块。检验程序符合 EMVA 1288 标准。因此,SG-A CMOS 图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS 图像传感器测试仪的高度准直光束(<1°)可以克服传统光学系统(如积分球系统)无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素(< 1 um)、BSI 和 3D 堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计

特色

无损光学检测。

高度准直梁角 / 高准直波束角 < 0.05 度, < 0.1 度, < 0.5 度, < 1 度, < 3 度 (不同型号)

高均匀光束点:≥ 99%。

光的不稳定性 ≤1%。

高动态范围测试能力:80dB ~ 140dB(不同型号)。

可以测试 CMOS 图像传感器参数。量子效率、光谱响应、系统增益、灵敏度、动态范围、暗电流 / 噪声、信噪比、饱和容量、线性误差(LE)、DCNU(暗电流不均匀性)、PRNU(光响应不均匀性)、CRA(首席射线角)。

全光谱波长范围:300nm – 1100nm 或 350nm ~ 1000nm(PTC)。

波长可扩展至 1700 纳米以上。

DUT 封装:CIS 模块,PCB 板级,CIS 摄像头,有 / 无微透镜。

SG-A 和 DUT 之间的 “直接 “或 “握手 “通信协议。

定制的测试夹具和平台(手动或自动,最多 6 轴)。

强大的分析软件 ARGUS®。

应用:指纹识别(CIS + 镜头,CIS + 准直器,TFT 阵列传感器)CIS 的微透镜设计,晶圆级光学检测,CIS DSP 芯片算法开发,Si TFT 传感器面板,飞行时间相机传感器,接近传感器(量子效率,灵敏度,线性度,SNR 等),d-ToF 传感器,i-ToF 传感器,多光谱传感器,环境光传感器(ALS),指纹显示(FoD)传感器。

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