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半导体行业高低温老化性能测试方法

2023/07/14 08:59

阅读:126

分享:
应用领域:
半导体
发布时间:
2023/07/14
检测样品:
电子元器件产品
检测项目:
半导体行业高低温老化性能测试
浏览次数:
126
下载次数:
参考标准:
GB2423. 1-89、GB2423. 2-89、GB2423. 3-93

方案摘要:

高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。

产品配置单:

前处理设备

高温老化试验箱温度老化测试试验机荣计达仪器

型号: GWY-500L

产地: 上海

品牌: 荣计达仪器

¥5万 - 10万

参考报价

联系电话

橡胶加速老化试验高温老化试验箱

型号: GWL-系列

产地: 上海

品牌: 荣计达仪器

¥1万 - 5万

参考报价

联系电话

方案详情:

半导体行业高低温老化性能测试方法:

800-4.jpg

原理:

高低温老化试验箱可以对半导体器件进行恒温高低温老化测试,以了解器件的性能随时间的变化情况。通过控制恒温高低温条件,使半导体器件长时间暴露在高低温、潮湿等极端环境下,从而反复检测其性能的变化趋势及寿命,以评估其质量和可靠性。还可以对新开发的半导体器件进行可靠性测试,通过控制恒温高低温条件,测试其在恶劣环境下的性能稳定性。这种测试可以提早发现新器件的问题和不足之处,以便进行调整。还可以对半导体器件的质量和可靠性进行评估和证明,以保证它们能够在各种环境下稳定地运行。

测试方法:

1. 高温储存

测试条件:85℃±5℃

持续时间:1000h

2. 低温储存

测试条件:-40℃±5℃

持续时间:1000h

3. 温度循环

测试条件:-40℃85℃

持续时间:200个循环

4. 湿热循环

测试条件:40℃85℃RH=85%

持续时间:10个循环

5. 高温高湿寿命测试

测试条件:85℃85%RH

持续时间:1000h

 


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