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苏州市莱顿科学仪器有限公司
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用Agilent 7890A GC微板流路控制技术同时分析乙烯原料中的痕量氧化物和烃类杂质
2009-01-19 17:22
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用Agilent 7890A GC微板流路控制技术同时分析乙烯原料中的痕量氧化物和烃类杂质
乙烯中存在的痕量烃类物质会严重影响过程催化剂和最终聚合物产品质量。如ASTMD6159的分析方法用于测定这些原料的质量[1]。然而，其它重要污染物如氧化物的分析需要在另一台仪器上运行GC方法。这对于过程分析实验室来说，既费时、成本又高。
Agilent 7890A GC是分析乙烯中不同种类的痕量化合物的理想平台。通过下列措施可实现最高的分析效率：
• 使用微板流路控制技术通过2-D Deans Switch色谱在一次运行中分析痕量氧化物和烃类
• 使用新的辅助电子气路控制模块（EPC）使制备多级校准标样自动化
• 通过防止极性氧化物进入色谱柱保护了昂贵的PLOT柱和保持高的灵敏度
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