CCD光电直读火花源原子发射光谱仪
CCD光电直读火花源原子发射光谱仪

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Labspark5000

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中国大陆

  • 白金
  • 第21年
  • 一般经销商
  • 营业执照已审核
该产品已下架
核心参数

应用范围

广泛应用于冶金、铸造、机械、金属加工等领域的生产过程控制、中心实验室成品检测,可用于Fe、Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Sn、Ag等多种金属以及其合金样品分析。光电倍增管CCD同步采集技术,弥补CCD对C、P、S元素分析的不足。

技术参数:
 [火花台]
·激发能量、频率连续可调全数字固态光源,适应各种不同材料
·独特的恒温式火花台设计,环状氩气流方式,保证连续激发状态下仪器的稳定性,避免使用水冷带来的不利影响
·安全防护设备阻止不安全激发
·铜基座火花台,火花台易于拆卸,便于清洁
·带有特殊配件,易于检测多种形状的分析对象(饼状、棒状、线状)
·一体式透镜隔热阀,可防止因日常维护导致的光室污染影响强度下降,透镜易于更换
·放电室设计独特,保证放电在最佳条件下进行
[真空光学系统]
·帕邢-龙格架法,高发光全息光栅
·光栅焦距500mm,刻线为2400条/mm,谱线范围:120-800nm
·色散率:一级色散率:0.55nm/mm,二级色散率:0.275nm/mm
·分辨率:优于0.01nm
·双光学系统:光电倍增管系统170nm~200nm,线阵CCD系统200nm~500nm
·光电倍增管部分采用整体出射狭缝调试方便、快捷、节约成本
·光栅、CCD、光电倍增管等核心部件全部进口
·真空度由真空泵和真空控制设备控制
·铸造光室,热膨胀系数低,保证真空度要求
·真空隔断阀,防止真空泵油倒吸入光室
·吸附井
 [光源及检测系统]
·采用纳克公司独创的金属原位分析仪的核心关键技术——单次放电采集解析技术(Single Discharge Analysis,SDA)
·CCD检测系统采用以FPGA为核心的信号采集及处理技术,实现波长在200nm~500nm范围内的全谱采集
·世界首创多通道同步描迹提高仪器稳定性
·短波元素采用光电倍增管作为光电探测器,采用延时积分技术,国内空白、世界领先,不同的通道采用不同的积分起始时间
·内部恒温系统,不同的部位采用不同的恒温条件,大大减少了外部环境变化对仪器的影响(控制精度±0.1℃)
·连续可调光源,对不同的材质可以匹配不同的光源实现最佳的分析结果
·模块化的电路设计,维修方便快捷,为远程诊断做好的准备
·软件可调独立高精度负高压模块,负高压精度<0.05%
·负高压可由分析程序控制,提高分析程序的分析精度,扩展元素分析的范围
 [高精度负高压,独立连续可调可调技术]
·精度高,波动≤0.01%
·各光电倍增管负高压独立供电,消除相互干扰,运行更可靠
·根据分析需要,可程序调整,拓宽分析范围
[仪器状态实时监控系统]
·实时监控各通道负高压、光室温度、火花台温度、真空度等重要参数,确保仪器长时间稳定运行
[软件]
·包括不同基体不同曲线的计算
·CCD背景扣除技术
·全中文分析软件,方便用户操作
·第三元素干扰校正,提高分析准确度
软件允许以下操作:
·建立并修改分析程序
·输出方式可选(强度、强度比率、未校正浓度、校正浓度等)
·分析结果的浓度单位可选
·可进行通用标准化
·类型标准化
·校正元素间的干扰
·可打印出超过100次激发的所有结果及其平均值,标准偏差和相对标准偏差
·在同一点可重复一次或多次激发,可剔除一次或多次激发结果
·标准物质库
·可进行统计分析计算
·中英文输出结果
·可将分析结果输出成office办公软件能接受的数据格式
·硬盘存储数据为以后的研究提供方便
·可连接外部计算机或中心系统

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