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X荧光光谱仪在高炉生铁快速分析中的应用

简介：X荧光分析属无损表面分析，分析面为30mm的圆片，为了确保准确性，要求生铁样品成分均匀，无偏析，表面光洁度好。由于生铁中非金属元素含量高，试样采取时易偏析，为了得到成分均匀试样块，必须在试样块浇铸时，保证试样的白口化，另外保证试样无夹渣、气泡、缩孔等。
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