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P300 原子力显微镜

简介：台湾ARDIC P300型原子力显微镜主要用于材料表面的高分辨率成像及相关表面参数测量，利用该公司专利的光像散射技术结合中文的软件操作界面可有效解决了传统原子力显微镜操作繁琐的缺点，使得AFM的操作变得简单，不需经过特殊培训也能够快速获得高质量的扫描效果，同时仪器的垂直分辨率最高可达0.01nm，并且我们研发了多种不同精度与范围的扫描器可供选择
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