你的题目跟你的内容是两个问题..........

>FW(I)如何通过Jade6.5软件求出来呢？
Jade没有Fundamental Parameter Approach, 无法通过仪器光路元件的尺寸来计算仪器峰宽. 只能测标样来测量仪器的"峰宽-角度"曲线, 多项式拟合后就可得到样品所在角度处的仪器峰宽

>Jade6.5软件如何算出位错密度
有粗略的估算方法 也有精细的建模方法  后者的话连Jade的最新版都不一定能算  更别提那么老的版本了
位错密度的建模也要分类型讨论 不同的类型用不用的公式 目前在一些卷积合成峰形的拟合软件上才能实现, 参见这边文章: doi:10.1107/S160057671801289X