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共有 3 人回复了该问答FEI F20有可能获得材料的结构像吗
 回复v2953379发表于：2020/8/1 18:06:07悬赏金额：12积分 状态：未解决
仪器标注的点分辨率为0.24 nm。在其它条件（样品厚度，聚焦等）都是最优的情况下，仅讨论获取到结构像的可能性，或者有没有这样的案例？我是新人，谢谢各位专家！
 回复  1# m3002960  回复于：2020-08-03 17:32:07
个人理解是，这还得看材料结构吧，如果对应观察方向晶体结构在设备可以分辨的范围，厚度等条件合适自然是可以获得的！
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