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共有 19 人回复了该问答关于XRD零点偏移问题
 回复Insm_cc46d0ac发表于：2020/7/14 16:57:40悬赏金额：1积分 状态：未解决
请教大家困扰挺长时间的一个问题，XRD样品中如果峰位偏移会表现为高角的峰位偏移量大于低角，所以需要用外推法计算晶胞参数，那么，假如在测试的时候仪器零点出现误差，或者样品高出/低出样品台导致峰位偏移的情况下，高角偏移和低角偏移量一样的吗，是谱图整体偏移同角度还是仍然为高角偏移量大于低角偏移量呢，有相关函数证明吗，求助大神们解答
 回复  1# iangie  回复于：2020-07-14 18:09:40

零点偏移不管对低角还是高角的影响都是一致的

样品高度偏移对低角峰位和高角峰位的影响不一样:　Δ2θ (deg) = -360 S Cosθ / (R π) 其中S为样品表面高度偏差


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