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共有 19 人回复了该问答
关于XRD零点偏移问题
回复
Insm_cc46d0ac
发表于:2020/7/14 16:57:40
悬赏金额:
1积分
状态:
未解决
请教大家困扰挺长时间的一个问题,XRD样品中如果峰位偏移会表现为高角的峰位偏移量大于低角,所以需要用外推法计算晶胞参数,那么,假如在测试的时候仪器零点出现误差,或者样品高出/低出样品台导致峰位偏移的情况下,高角偏移和低角偏移量一样的吗,是谱图整体偏移同角度还是仍然为高角偏移量大于低角偏移量呢,有相关函数证明吗,求助大神们解答
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回复
1#
iangie
回复于:2020-07-14 18:09:40
零点偏移不管对低角还是高角的影响都是一致的
样品高度偏移对低角峰位和高角峰位的影响不一样: Δ2θ (deg) = -360 S Cosθ / (R π) 其中S为样品表面高度偏差
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