关于漂移校准问题的一点迷惑，望大神来解释下~~

1 仪器的漂移校准：一般厂家都会给到一个仪器的漂移校准程序，定期对X射线的能量信号进行检查，会给到一个标准样片A和一套相应的操作程序。不知我的理解是否到位？

2 工作曲线的漂移校准：当仪器在做工作曲线的时候，一般会设置一个控制标样（QC）和漂移校准标样。我的理解是，QC标样是来验证曲线的准确性的，而漂移校准样品是用来校准工作曲线长期使用后的漂移的，比如待检测的元素线的能量强度是否有变化。

我的问题是：a 如果我的标准曲线是用一套压片样品做的，漂移校准样品是不是也需要用同样的制样方式？而漂移校准样品建议是用稳定的样片，比如熔片。漂移校准样品的制样方式需要和工作曲线中标样的制样方式一致吗？

                    b 漂移校准片中用来校准的元素是否应该和标曲里的元素完全一致，至少应该涵盖我需要测试的元素。比如，我标曲里测得元素是Ca,Zn,Cu,Al。而漂移校准片中的元素是Mn,Fe,Cu,Zn。对于这样的实例，漂移校准的元素设置应该如何设置呢？

                  c 其实和b差不多，就是压片制样做的工作曲线，是否可以用仪器自带的熔片来做漂移校准呢，因为首先制样方式不同，并且元素种类也不尽相同。

新手入门，对于以上3个问题还请各位大神不吝赐教。