1.用XRF初筛的时候存在一定的的误差，如果测试结果有检出，但是远远小于限量，还有必要用ICP测吗？例如聚合物总铬含量有检出，但低于1000mg/kg，还有必要测六价铬吗？如果可以不测了，报告该怎样说明。
并不是说低与1000ppm就可以不测，IEC62321-3-2:2013接受XRF筛选，里面也提到不确定度30%，所以结果700以下可以判定合格，报告注明参照IEC62321-3-2:2013；前提是你们有经过方法确认等资料并且客户认可或者是认可项目
2.根据标准，金属部分要求至少凑25cm2表面积去进行实验，对于那些表面积很小的部件，例如针脚，要凑25cm2，得拆多少元件，有什么简单的方法吗？
可以做风险管控，针对材质及其厂家提供的BOS,COC（符合性申明书）等管控，虽然IEC62321-7-1:2015是针对金属表面六价铬的沸水测定，但是筛选还是有不少是点测试；
3.一块电路板上面有多个电子元件，不同元件有类似的金属片，这些是不是都必须分开测？这都分开测的话，该怎么命名区区分呢？
这个就是拆分成均质材料，内部文件有无对样品拆分命名等要求，可以参照涂层，塑胶，金属件等单独命名