回复zwchua发表于：2007/2/5 21:42:00悬赏金额：
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薄膜断面样品制备时,用离子减薄穿孔后,再小角度减,一般要减到什么程度为止
穿孔后要看清孔的位置，如果孔穿在基片或衬底上就得继续减薄，需借助显微镜监视小孔的扩展情况，使孔的轮廓线刚接触到粘接缝时为止。
ywngs 回复于：2007/2/5 22:24:00
当减薄至穿孔后小角度低电压,目的不在减薄而在清洁样品表面的污染.清扫几分钟就行.
原文由 zwchua 发表:
你好,谢谢你的热心相助!可我做了几个样,穿孔后再减了10几分钟,在穿孔位置附近都找不到所需要的信息,而这材料前段时间叫另外同学是做出结果来的,附近可见大量的位错,难道是透镜观察时出了问题? |
离子减薄样品中出现大量位错，这个要小心，搞不好是制样引入的假象。若离子减薄的时间很长，假象的可能性就较大。需多个样品相互验证
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