我简单补充几点：
1，    线分辨率是由直透束（不知这样称呼Direct beam是否恰当）和衍射束相干成像，换句话说就是有两个以上的波合成形成的像，这也是相位衬度形成的机制。它可以反映出晶体结构特征。但注意它反映出的条纹不一定是晶体结构中所真实存在的，像JEM-2010的超高分辨电镜，线分辨率可以达到0.1nm，而厂家一般是通过单晶金（100）来测试得到0.1nm的条纹，但在金的结构中是没有的。
2，    点分辨率又称空间分辨率，就是说它所能区别开空间中最小两点之间的距离。在TEM中是指在谢尔策聚焦条件下的物镜衬度传递函数与横坐标第一次相交点所对应的空间频率的倒数。
3，    α角的改变是通过CM LENS（小聚光镜）来实现的。GUN LENS是指FEG中的A2和下面加速极之间形成的静电透镜。

Gun lens调节的是灯丝下的一个静电透镜。

原文由 yjcs3018 发表: 最近遇到三个问题，久思不得其解，希望各位大侠能指点一二． 问题一：为什么电镜的线分辨率比点分辨率高不少？ 问题二：a－selector钮和Ｇun　lense钮分别控制的是相关电镜中的哪个　lense？ 问题三：在调高分辨时非常强调带轴的踩正，如果稍有偏差，则会影响图象质量．那偏差量大概达到多少时，高分辨的图象质量基本上就不能接受？

1.看一下点分辨率和线分辨率的定义就知道了。
2.a-selector好像是调mini聚光镜，gun lens是哪个钮？
3.如果偏得比较大可能就只能出现一维条纹，如果衍射谱不太正，对标定影响不太大，但进行图像模拟要考虑晶体倾斜。