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共有 5 人回复了该问答 X-射线荧光光谱的定量原理是什么
 回复qaz15000发表于：2020/1/22 18:05:26悬赏金额：18积分 状态：未解决
各位老师，大家好，我需要 X-射线荧光光谱对一个样品中的二氧化硅进行测定，供应商给了个方法，采用压片法进行测定，没看的太懂。我想请教大家，定量样品中的二氧化硅需要采用对照品么，对照品怎么制备，厂家给的方法说采用商业化定制的对照品。
 回复  1# alhoon  回复于：2020-01-23 17:16:26
你测的样品是啥？粉末压片的话，对照样品需要和你的实际样品组成粒度尽可能相近，以降低粒度效应和价态影响，同时基体效应校正也更靠谱。对照样品也可以说是标准样品，可以自制也可以外购。
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