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共有 4 人回复了该问答
涂层刀具做XRD,出不来涂层的衍射峰,只有基体的峰
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Insp_62ec3592
发表于:2020/7/16 11:25:13
悬赏金额:
11积分
状态:
未解决
我的涂层刀具,基体是硬质合金,TiAlN涂层,涂层厚度1.5微米,做XRD分析只出来基体WC和Co的峰,没有涂层的峰,请问为什么?我想看涂层的物相分析和择优取向,请问该用什么方式?
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回复
1#
loaferfdu
回复于:2020-07-18 11:40:13
试一试掠入射的光路,最好寻找带有专门薄膜附件的仪器,这个各大品牌都有的,但是你所用的机器不一定会配置这个。
掠入射指的是X光以小角度(比如2deg或者0.5deg)等等入射样品,然后这个角度是固定不动的,而检测器大角度旋转收集衍射信号,选择合适的角度可以做到完全屏蔽基底的信号,这样来自薄膜的信号信噪比会比较好。
测试过程中注意两点:
1. 薄膜本身结晶不一定好,如果第一次做不出来,试一试退火后重新测试;
2. 薄膜薄膜,所以样品量肯定会比较少,扫描速度不要过快,否则小峰基本就拉平不见了。
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