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回复v3303658发表于：2020/5/14 14:33:37悬赏金额：1积分状态：未解决

请教各位专家，
测定信息分辨率时，（样品为多晶gold）
在曝光过程中shift image X or Y 0.02um，FFT图像会出现干涉条纹，干涉条纹穿过某个rim就说明达到该rim所代表的信息分辨率。
请问这样的测试方法的原理是什么，另外有其它的测定方法不？
以上，谢谢！

1# coime 回复于：2020-05-16 08:40:37

你这个是用底片的信息分辨率测量方法？
现在有CCD就比较方便了，用多晶Au，如果衍射谱衬度所能出现的一个值
从图片看更加直观，信息分辨率不随聚焦发生变化的，可以参考http://www.globalsino.com/EM/page4156.html

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