所有提问
色谱
|
光谱
|
质谱
|
波谱
|
显微镜
|
物性测试
|
样品前处理
|
常用设备
|
食品检测
|
药物分析
|
环境监测
|
实验室建设/管理
|
认证认可
|
基础知识
更多>>
未解决的问题:
146751
所有仪器问答:
170711
您现在的位置:
首页
>
仪器问答
>
光谱
>
红外
红外论坛
共有 2 人回复了该问答
有没有用尼高力傅里叶红外测碳化硅外延片厚度的?求讨论
回复
aolifu3516
发表于:2020/9/6 13:47:38
悬赏金额:
10积分
状态:
未解决
有没有用尼高力傅里叶红外测碳化硅外延片厚度的?求讨论。
这个需要用标准样品校准吗?如何做的呢?
·
·
·
·
回复
1#
doublezhq
回复于:2020-09-29 20:35:38
一般来说肯定是要标准品的,不过有一种最简单的测量外延层方法,不需要标准品,使用干涉图就可以了,不过外延层要比较厚能产生明显的干涉峰才行。
扫一扫查看全部
2
条回复
高级回复
快速回复
【花三五分钟,帮别人解决一个问题,快乐自己一天!】
未解决问题
求助,omnic软件无法
红外3500处有倒峰
红外环境色谱
求助!!!红外光谱如
求助,这两个光谱图区别
红外仪器信息求助
有了解工业用多探头近
红外光谱如何分析
红外光谱如何分析
红外谱图分析
相关仪器
相关资料