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共有 1 人回复了该问答请问利用XPS能不能分析半导体催化剂TiO2表面吸附的微量汞金属啊？
 回复luweiweiputi发表于：2006/11/28 9:41:00悬赏金额：20积分 状态：已解决
请教各位前辈，如题所问，不过是TiO2乳浊液表面吸附的微量汞，最理想状态汞含量也就0.5%（质量分数），而且很难保证均匀，请问利用XPS能否检测？
feixiong5134 回复于：2006/11/28 18:09:00
估计很难！
xps的检测下限是摩尔含量0.1％
 回复  1# feixiong5134  回复于：2006/11/28 18:09:00
估计很难！
xps的检测下限是摩尔含量0.1％
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