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共有 1 人回复了该问答
请问利用XPS能不能分析半导体催化剂TiO2表面吸附的微量汞金属啊?
回复
luweiweiputi
发表于:2006/11/28 9:41:00
悬赏金额:
20积分
状态:
已解决
请教各位前辈,如题所问,不过是TiO2乳浊液表面吸附的微量汞,最理想状态汞含量也就0.5%(质量分数),而且很难保证均匀,请问利用XPS能否检测?
feixiong5134
回复于:2006/11/28 18:09:00
估计很难!
xps的检测下限是摩尔含量0.1%
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回复
1#
feixiong5134
回复于:2006/11/28 18:09:00
估计很难!
xps的检测下限是摩尔含量0.1%
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