所有提问
色谱 | 光谱 | 质谱 | 波谱 | 显微镜 | 物性测试 | 样品前处理 | 常用设备 | 食品检测 | 药物分析 | 环境监测 | 实验室建设/管理 | 认证认可 | 基础知识    更多>>
未解决的问题：146794
所有仪器问答：170756
我要提问
 您现在的位置：首页 > 仪器问答 > X射线仪器 > X射线衍射X射线衍射论坛
共有 5 人回复了该问答XRD谱图分析
 回复v3193396发表于：2020/2/16 21:06:41悬赏金额：1积分 状态：未解决
我做的是NbSe2薄膜，第一次做XRD，拿到数据后处理发现自己想要的东西很少（部分氧化），不知道是不是我制备工艺的原因，还有就是在56度左右的一个尖峰，我觉得是硅基底，在计算结晶度拟合峰时需要把这个峰去除么？有没有大神能帮我看一下，组里没有做晶体的师兄，谢谢了 。
附件
     回复  1# loaferfdu  回复于：2020-02-16 21:59:41
    附件还在审核中，暂时还不能下载，看不到。
    找个带有薄膜附件的XRD仪器做一下看看。这种薄膜附件可以避开衬底的影响。
    另外，56°的峰你确定是Si衬底的峰？Cu靶的话Si在56.1°确实有个峰，不过那是（311）面的衍射峰。你用的衬底是Si的哪个面？（100）面比较常见吧，如果是100面，则69.1°的峰时(400)峰，就是Si的100的4级衍射峰
    扫一扫查看全部5条回复
    高级回复快速回复【花三五分钟，帮别人解决一个问题，快乐自己一天！】
    未解决问题