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共有 12 人回复了该问答
基本参数法校正基体
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v3140955
发表于:2020/2/14 10:34:32
悬赏金额:
16积分
状态:
未解决
目前正在研究怎么用基本参数法进行基体校正,现在关于质量吸收吸收有个疑问的地方,关于μi,λi是怎么计算的呢?待测元素i对其的特征射线的吸收系数怎么计算呢?在教材也没有找到这个相关的内容,哪位对这个了解指点一下!待测元素i对其特征射线存在吸收吸收吗?
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1#
midstone
回复于:2020-02-29 10:57:32
特征X射线λi是固定的,这个值有表可查。
待测元素i对于任意波长的X射线(含荧光)都有吸收作用,但是只有波长小于λi的X射线能激发i的荧光λi。
但待测元素i对X射线的吸收程度(系数)非常复杂,具有跃迁性。在一个波段可用某个函数拟合,但另一个波段却是不同的拟合函数。
波段边界也就是所谓的临界处,其值会突然跃迁,呈现出一个“台阶”。
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