回复kloc发表于:2006/11/14 13:00:00悬赏金额:
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已解决
有机方面的,可能大家做的不多,但道理应该是一样的,麻烦各位老师给看看。
单晶结构已经得到。用物理气象沉积得到了微米级的单晶带,并得到了SAED图像。由于是有机材料,稳定性不如无机材料,怕喷金做内标影响衍射,就没喷金,只得到了一个SAED图像。所里用来校正相机长度的标样坏掉了,我想在铜网上真空蒸镀一个样品,得到和我样品SAED同样相机长度的衍射,然后量这个已知长度的衍射环的距离就能得到我的衍射点的距离。不知道是否可行?如果行应该注意什么?
如果我把各个相机长度下都拍个衍射,只要不换CCD是不是以后各个相机长度下得到的衍射都可以对照解析了呢?
另外麻烦各位老师给介绍下衍射指标化后如何确定我那个微米带的生长方向?论文正在写,就差个透射数据了。刚接触TEM不到一个月,从这里学了不少东西,谢谢大家了!
我们所TEM的型号是JEM2011。
shxie 回复于:2006/11/14 13:21:00原文由 kloc 发表: 什么样的操作属于您说的特殊操作呢?
我应改是按一般操作来做的。因为我们所的TEM管理员不让随便动一些调节按钮。我看了些资料,大致知道怎么指标化(只是知道,从没实践过,也不知道我这个样能不能搞定),但指标化后怎么确定我那个微米线的生长方向?还望大致指点一下。
衍射时相应的投射图片也在。 |
如果按照平常操作就是没有特殊操作了,呵呵。
指标化的问题以前讨论过很多,你可以找找以前的帖子。