回复v3061498发表于:2020/8/30 14:22:52悬赏金额:
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未解决
偶是用的A家的7900,做半导体wafer表金属含量ppt级检测的,用的是自吸进样。近来发现结果与之前有些不一样:
1. 调谐计数比之前低1000左右,且测纯水金属含量,Na之前CPS约60左右,最近的CPS约10左右。
偶认为是灵敏度降了,将雾化器/雾化室/炬管/锥/透镜都按照相应的维护方法清洗了,锥孔没堵没变大,雾化器测试没堵,结果仍然没有改善。
2. 调谐结果的RSD较之前的高(COOL下之前为2%左右,现在都变成7%左右了)
这些变化有没有和做了几份高纯石英砂有关呢。
对这两个问题,元芳,你怎么看?