大家好，
TEM样品用于观察现象的薄区厚度一般在100nm以下。
对于原位实验（in situ TEM），所观察的实验现象，受不受 thickness effect（表面能，电子束方向的厚度约束等）影响？
换言之，TEM中得到的实验现象与大块试样的实验现象是否一致？
例如，in situ TEM中界面迁移行为与块体样品中界面行为的对比：in situ TEM中界面是否收到样品表面的影响。
PS. 课题不是讨论thickness effect对TEM观察现象的影响；现在题主做了一个in situ TEM的加热实验，未雨绸缪，怕审稿人问thickness effect这个问题。
当然不同的现象，thickness effect可能影响不一样，希望大家附上参考文献。