如我的样品是Co2MnSi,(表面概率2nm左右的Pd保护层 ,他们说不打掉不影响结果)扫描后得到了这四幅图
1.suvey中对应区域放大的图形形状和对应的scan扫描图一样吗?(如Mn的2p电子结合能为640-650左右那么对survey600-700区域放大的图与Mn的scan图一样吗)
2.survey图的cps为什么比scan的大好多(对比相同横坐标区间)
3.我这个样品的扫描图像是好还是不好?根据这个结果得到的原子比可靠吗?
4.为什么扫描图像(尤其是Mn和Si)毛刺那么多,且主峰很宽
5.发过来的数据中atomic的相对比是按什么方法计算的
6.表面的Pd保护层对测试有大影响吗
因为是第一次测XPS,所以问题比较多,希望论坛的各位前辈解答一下,谢谢大
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015041412521450_01_0_3.png)
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2017/10/2015041413064998_01_0_3.png)
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504141307_541960_2999701_3.png)
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2015/04/201504141307_541961_2999701_3.png)
家了!!!!!!