分析样品为：高炉渣（压片）  120目
最近出现这样的问题，我们分析成份为 SiO2（含量在30左右） CaO（含量30~40） 等元素，最近出现这样的问题，同一个样品压片在没有调节分析曲线的前提下，昨天分析和今天分析的结果出现很大的差异（差不多1%以上），出现这样问题后采取的措施是调节phd，和漂移校正。结果并未改观。。
PS：同样条件我保留了头一天的高炉渣熔片到今天分析，结果波动较小0.2左右，可以认为未出现波动。
如果是设备硬件问题的话，个人认为高炉渣熔片结果也会出现相应的差距较大的波动，但是，熔片确没有波动。
如果是设备硬件没问题的话，在没有调节曲线的情况下，同一个样片结果应该不出现波动才对。这问题确实让我困惑了。。
再者，我想请教大家一个问题是，同一元素的分析，熔片和压片分析时使用的探测器，滤光片之类有没有差异？