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透射电镜论坛
共有 5 人回复了该问答
FIB制样,提取样品
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v2722760
发表于:2020/1/15 11:54:10
悬赏金额:
1积分
状态:
未解决
利用FIB-SEM制备微米级粉末的TEM样品,lift-out法,样品提取后,如何转移到C膜上或者如何焊接到Cu网上呢?
我的疑问在于:提取的样品是垂直于C膜或者Cu网,后续的什么操作可以使得样品与C膜或者Cu网水平呢?
此贴在SEM版块发过,不知在TEM版块发一遍,是否违规,如违规,版主就删帖吧。
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回复
1#
coime
回复于:2020-01-16 12:19:10
你说的是这个帖子
http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20120621/4106672/
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