大家好，我制备了四个样品的XRD慢扫，用GSAS做结构精修。我的粉末样品是(Sr1-xBax)3SiO5:Eu2+(x=0, 0,05, 0.2, 0.4)，前两个样品（x=0, x=0.05）已经精修出来了，效果还可以，我是以Sr3SiO5的CIF为标准来进行精修的，Sr3SiO5和Ba3SiO5可以形成很好的固溶体，都属于四方晶系，可是后面两个样品精修时出了问题，CHI**2下不去，异常高达到600多，计算出来的峰相对观察峰的位置都整体向大角度偏移，我想可能是因为我掺了Ba晶格体积变大的缘故，可是要怎么处理才能使计算峰和观察峰的位置对应啊，请各位专家帮我分析下，我把我的数据上传，希望各位帮我处理下。下面是我精修出来的前两个样品的精修图。