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共有 6 人回复了该问答Si粉当内标进行Rietveld全谱拟合进行晶胞参数精确测定
 回复jacky100发表于:2020/6/26 19:59:59悬赏金额:11积分 状态:未解决
本人以99%纯度的Si粉作为内标物,加入10%左右进入四氧化三钴中,目的是进行四氧化三钴晶胞参数的精确测定。运用topas4.2进行全谱拟合,以下是拟合图。





想请教对topas软件熟悉的朋友,在拟合过程中Si作为内标物,其晶胞参数为已知值(5.430)。我是将其值fix,不进行refine。但发现这样之后,Si粉的观测谱和计算谱有时会有偏差,体现在计算谱相对观测谱会有整体的左移右移。那这样对Si粉的晶胞参数进行fix之后,似乎起不到其作为内标物的作用(看不出有加Si粉和没加Si粉有什么区别)。我也不知道该怎么处理这过程,或者我拟合的该步骤就存在错误?请iangie或其他热心的朋友能否指点一二,不胜感激。
 回复  1# iangie  回复于:2020-06-27 10:59:59
Corrections 里面的Zero error 和sample displacement refine 没有?
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