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共有 5 人回复了该问答用STEM做EDX的时候得到的counts数太少
 回复v2905766发表于:2020/6/24 19:09:25悬赏金额:5积分 状态:未解决
想做个EDX mapping, 但是样品比较大直径在150nm, probe size 是0.5 nm 如果扫很多点的话 需要几个小时, 但是如果选少量的点有很多样品有没有扫到,采集时间如果过长3s以上会使样品打穿,但是依旧得到的counts数不够。 还没有试过defocus或者增大convergence angle 把probe size变大,这样的话分辨率会变差但是得到信号会多么?还是可以用其他什么方法? 大牛们请指点下。
 回复  1# coime  回复于:2020-06-25 08:25:25
要改变计数率,需改变convergence angle  α和 spot size,而如defocus,改变焦距,同样使得照在样品上的束斑尺寸发生改变,建议还是使用spot size比较好
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