在一些模型中，用高斯分布来描述粗糙度，主要涉及两个参数：Δ，表面在垂直方向的平均位移，可用RMS来近似；Λ，Δ的相关长度。

对于Λ，我的理解是这样的：假如表面由不同高度的方块组成，在表面上取两个点，如果这两个点在同一个方块上，那么他们的高度是相关的，否则不相关。Λ可近似为AFM结果中两个峰的距离。

问题：

1，末学看了一些资料，都很零碎，对上面的模型没有清晰的图像。如果哪位大贤刚好知道这个问题，请帮末学解释一下这个模型。,

2，“Λ可近似为AFM结果中两个峰的距离”是不是正确呢？

3，AFM结果中两个峰的距离在结果中直接给出了吗？我上一个测量结果，可以用nanoscope analysis分析

谢谢大贤指点，末学感激不尽。