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共有 1 人回复了该问答
xps 谱线分析
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hxing
发表于:2020/8/23 16:07:07
悬赏金额:
7积分
状态:
未解决
大家好!有人有xps 分析太阳能薄膜材料 Cu(In,Ga)Se2 材料制备过程中生成的Cu2-xSe吗?
前段时间 投了一篇文章,在文章中 我说薄膜表面产生的 Cu2-xSe 使 薄膜的Cu含量升高,但是审稿人
对这个提出异议,对Cu2-xSe在表面富集的说法 表示不信服,让我使用xps分析薄膜。我现在已经得到了
xps结果,但是不知道如何分析,请求高手帮助,谢谢!Cu 和 Se的 谱线如下图所示:
刻蚀前的:
刻蚀后 :
·
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回复
1#
blackbeauty
回复于:2020-08-26 11:53:07
有原始数据吗?可以在刻蚀前和刻蚀后进行相对定量,看看Cu的是否在刻蚀前比较高 而随着剖析深度增加而Cu含量下降,此外,看看在表面的Cu是否以Cu2-xSe的形式存在。
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