最近遇到个情况,请高手指点原因,谢谢。
单位测试的硅树脂粉,粒度仪是微纳的,要说的问题是近几个月出现的,感觉在明显化。
第三个是今天测试的,中间的是两周前测试的,第一个是去年测试的。
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上传的样品经常用来对比,一直测试正常。近来检测突然出现两个分布峰。仪器背景等调试都很好,从显微镜下也没有发现前边个峰的颗粒,并且仪器测试10um 下颗粒基本都只有一个峰,再用以前测试过的颗粒(1-7um多个样本)对比,结果都是相同没有变化。只有在10以上颗粒测试才有这种问题。
这个情况最初是在一次测试15um的几个样本后发现的,后来情况明显化。
仪器存放环境不是很好,外边灰尘较大,但是也做了防护了。而且怎么说仪器背景正常应该是光路正常吧。
请各前辈帮下分析下。谢谢