最近遇到个情况，请高手指点原因，谢谢。

单位测试的硅树脂粉，粒度仪是微纳的，要说的问题是近几个月出现的，感觉在明显化。

第三个是今天测试的，中间的是两周前测试的，第一个是去年测试的。



上传的样品经常用来对比，一直测试正常。近来检测突然出现两个分布峰。仪器背景等调试都很好，从显微镜下也没有发现前边个峰的颗粒，并且仪器测试10um 下颗粒基本都只有一个峰，再用以前测试过的颗粒（1-7um多个样本)对比，结果都是相同没有变化。只有在10以上颗粒测试才有这种问题。

这个情况最初是在一次测试15um的几个样本后发现的，后来情况明显化。

仪器存放环境不是很好，外边灰尘较大，但是也做了防护了。而且怎么说仪器背景正常应该是光路正常吧。

请各前辈帮下分析下。谢谢