实验室用的XRD是Bruker D8 advance 软件是Topas，以前测非晶体含量都是用EVA里的方法 选个背景曲线就完事了，可这种方法重复性差，于是打算用Topas计算非晶含量，学习了软件教程和坛子里大神们的教程后开始动手实践，问题就出现了，官方教程里给出了两种拟合计算方法，第一种是Rietveld定量分析计算非晶相含量，非晶漫散射峰用FV函数描述，还借助内标物定量，第二种是结晶度计算，漫散射峰用SPV函数描述，也就是iangie在http://bbs.instrument.com.cn/shtml/20110424/3268309/给出的方法，我用两种方法分析同一个数据得到差异很大的结果 想请教一下高手是怎么看的？ 有没有解决办法？ 和更稳定可靠地分析方法呢？附件是教程和数据