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共有 14 人回复了该问答XRF融片用上表面测定
 回复huanggehuangge发表于：2020/8/22 11:17:07悬赏金额：14积分 状态：未解决
XRF融片法一直都是用下表面测定，为什么不能用上表面测定，我尝试了下用上表面去测定下（用的是下表面做的曲线），我做的是硅酸盐分析，结果是：其他元素都没啥大影响，就Si的结果有偏差（70-80%的Si测得值偏高1-2%），这是为什么，如果我用上表面做曲线再测定上表面结果会怎样，这样做有意义么？
 回复  1# huier1223  回复于：2020-08-22 11:29:07
你先比较一下融片的上下面的平整度再想想有没有意义。
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