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 回复mxchen1215发表于：2020/8/4 22:58:36悬赏金额：6积分 状态：未解决
【序号】：1
【作者】：B. Yan, S. Higashi, C.C. Tsai, Q. Wang, H. Gleskova
【题名】：Wide-spectral-range, Expanded-beam Spectroscopic Ellipsometer and its Application for Imaging/Mapping of Graded Nanocrystalline Si:H Films
【期刊】：MRS Proceedings
【年、卷、期、起止页码】： / Volume 1321 / 2011
【链接】：http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=8330835
 回复  1# hstudent  回复于：2020-08-04 23:13:36
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