大家看看下面几个图,帮忙分析分析,先谢谢啦!补充:ICP-OES (PE 7000DV)
(1)基线不平:标样和样品都一样,什么情况?干扰吗?怎么解决?
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305102344_439402_2582123_3.jpg)
(2)谱线偏离:样品的光谱线偏离标样。是不是选取的谱线不合适?解决方法?
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305102345_439403_2582123_3.jpg)
(3)样品谱线上飘:是不是可以通过调整,将谱线降下来(否则结果偏大),如何做?
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305102349_439404_2582123_3.jpg)
我试过将刻度系数有1改为0.3,可以将谱线降下来,但用再处理结果没变化,重新打开又是恢复原来的状态。也就是说没保存,应该如何处理呢?
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305102351_439405_2582123_3.jpg)
处理后如图:
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305102354_439407_2582123_3.jpg)
上图黄色谱线为试剂空白,两条粉红色为标样(0.2ppm、2ppm),可以看出试剂空白的Fe大于0.2ppm。
问题来了:标样0.2ppm回测出现负值,原因:在方法中设置了扣除试剂空白,现在有办法在该结果的基础上不扣除试剂空白吗?我想对标样不扣除,对样品扣除,呵呵,能做到吗?
补充:上面的问题是不是可以通过MSF模式来解决呢?MSF可以扣除干扰吗?屏蔽功能怎么用?
(哎~学的不精,
![](http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09501.gif)
有时间自己看看资料,好好冲下电!以后还是得多到ICP版块取经!
![](http://simg.instrument.com.cn/bbs/images/default/em09503.gif)
)
![](http://ng1.17img.cn/bbsfiles/images/2013/05/201305110003_439408_2582123_3.jpg)