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分析一固体陶瓷样品，想做釉面的微量元素分析。手头设备有ＥＤＸ，ＩＣＰ，ＸＰＳ，ＡＥＳ，ＥＥＬＳ，ＳＩＭＳ，ＰＩＸＥ，ＦＴＩＲ，Ｒａｍａｎ和ＸＲＦ。仪器都是导师的，可以随便用。但是没有师兄带。。。悲剧就是这样造成的。。。。

目前做了几个自己大二学过的，ＥＤＸ，ＸＰＳ，ＩＣＰ。然后比较不懂做ＸＲＦ意义何在？假使我做出来成分分析各不相同（几乎是必然的），如何取舍？

换句话说，有什么东西是ＸＲＦ可以做出来而其他不可的？ＸＲＦ优势何在？

具体说，ＥＤＸ方便可行（基本都要用ＳＥＭ），做大面积ｍａｐｐｉｎｇ很漂亮，对某些感兴趣区域可以再分析，配合ＦＩＢ还可以看ｃｒｏｓｓ　ｓｅｃｔｉｏｎ，尽管比较不准，但是初步用还是可以的。

ＥＥＬＳ正好做ＴＥＭ顺手做了。价态，轻元素，都是优势。

ＡＥＳ／ＸＰＳ虽然是表面，但是配合ｐｒｏｆｉｌｉｎｇ做剖面还是有优势，并且ＡＥＳ还能看化合价，轻元素相对准，无与伦比。

ＩＣＰ，就一个字，准。虽然ＡＡＳ也有，但觉得ＡＥＳ就够了吧。

但是ＸＲＦ呢？ＰＩＸＥ呢？

恳请各位高手指导，不胜感激！！