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共有 1 人回复了该问答
光荧光效率测量
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v2645161
发表于:2020/8/19 21:20:06
悬赏金额:
10积分
状态:
未解决
在硅衬底上生长的薄膜,想测其光荧光效率测量,但用HORIBA积分球说发的光在积分球内反射,被硅衬底吸收,测不到效率,有没有牛人能有办法解决?另外如果能测,衬底的吸收问题如何排除?非常感谢!
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回复
1#
fragr
回复于:2020-08-24 19:39:06
1.发光绝对的强度或效率是否可以保证荧光效率测定。
2.衬底也是你的材料,可以考虑在背面用四氟料覆盖。
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