回复xujinling发表于:2006/5/17 20:33:00悬赏金额:
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各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教
你分析的是什么金属,如果是过渡金属或稀土元素,那主要考虑的是谱线重叠干扰。用酸溶了,关键是看怎么溶。分析时不需要更纯的金属进行基体匹配。
标准加入法确实是最好的一种基体匹配的方式,但必须先消除光谱干扰,其中包括谱线重叠干扰和背景干扰,当然能选到一条没有谱线重叠的分析线最好,但这样做往往不能采用最强线,从而是以牺牲检出限为代价。此外还有一种途径就是利用数学手段进行校正。
风之灵 回复于:2006/6/26 23:52:00
原文由 damoguyan 发表:
原文由 xujinling 发表: 各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教 |
做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦! |
晕,这叫什么说法!谱线重叠如果标准加入法会碰到,难道别的方法如标准曲线法就不会碰到?这个问题是仪器分辨率的问题与方法是两个概念!关于你所说的不能消除基本干扰,难道用纯物质打底就能消除?标准加入法主要就是为了基体不好匹配的情况下采用的一种方法,就是为了消除基本干扰,你用过吗或者说你正确的用过吗?
原文由 xujinling 发表: 各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教 |
做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦!