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共有 9 人回复了该问答求助:pe2000DV能用标准加入法吗
 回复xujinling发表于:2006/5/17 20:33:00悬赏金额:20积分 状态:已解决
各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教
shaweinan 回复于:2008/1/6 9:55:08
  你分析的是什么金属,如果是过渡金属或稀土元素,那主要考虑的是谱线重叠干扰。用酸溶了,关键是看怎么溶。分析时不需要更纯的金属进行基体匹配。
  标准加入法确实是最好的一种基体匹配的方式,但必须先消除光谱干扰,其中包括谱线重叠干扰和背景干扰,当然能选到一条没有谱线重叠的分析线最好,但这样做往往不能采用最强线,从而是以牺牲检出限为代价。此外还有一种途径就是利用数学手段进行校正。
风之灵 回复于:2006/6/26 23:52:00
原文由 damoguyan 发表:
原文由 xujinling 发表:
各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教

做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦!


晕,这叫什么说法!谱线重叠如果标准加入法会碰到,难道别的方法如标准曲线法就不会碰到?这个问题是仪器分辨率的问题与方法是两个概念!关于你所说的不能消除基本干扰,难道用纯物质打底就能消除?标准加入法主要就是为了基体不好匹配的情况下采用的一种方法,就是为了消除基本干扰,你用过吗或者说你正确的用过吗?
damoguyan 回复于:2006/6/26 19:13:00
原文由 xujinling 发表:
各位大虾:我们使用的PE2000的ICP,做高纯金属的杂质分析时,我担心有基体影响,但做基体配比又找不到高纯基体,请问各位,能用标准加入法吗?怎么用呀?请指教

做是可以做的,但标准加入法不能消除基体干扰,特别是谱线重叠干扰,只能消除基体黏度等物理干扰,是一种没多大意义的方法,还比较麻烦!
linli774 回复于:2006/6/26 15:20:00
当然可以,标准加入法和仪器型号一点关系都没有
xuzuyin 回复于:2006/5/17 22:01:00
基体肯定有影响,不如换其他方法做.
 回复  3# hezia  回复于:2006/5/17 21:09:00
应当可以的,标准加入法与仪器型号没有什么关系的。
单点法是加入待测物质含量约十倍的已知含量的样品,根据测定结果计算待测物质含量。还可以加入多点作曲线外推求待测物含量。
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