所有提问
色谱 | 光谱 | 质谱 | 波谱 | 显微镜 | 物性测试 | 样品前处理 | 常用设备 | 食品检测 | 药物分析 | 环境监测 | 实验室建设/管理 | 认证认可 | 基础知识    更多>>
未解决的问题：146832
所有仪器问答：170798
我要提问
 您现在的位置：首页 > 仪器问答 > X射线仪器 > X荧光光谱X荧光光谱论坛
共有 6 人回复了该问答Si 强度突然下降的原因
 回复wvenus200发表于：2020/9/21 16:20:14悬赏金额：8积分 状态：未解决
请教各位前辈，荧光仪Si 强度突然下降的原因？荧光仪在测定样品时Si强度值下降很多，在做完探测器校正和漂移校正发现monitors K中Si强度从17.875下降到14.908，请问这是什么原因？在做PHD检查时，用的是生产样，发现Si有俩个峰值，同一个样第二次在检查时峰值正常，请问是什么原因？
 回复  1# wvenus200  回复于：2020-09-21 16:24:14
补充：荧光仪型号是帕纳科VENUS 200，就硅测定值异常，其它测定值正常。
扫一扫查看全部6条回复
高级回复快速回复【花三五分钟，帮别人解决一个问题，快乐自己一天！】
未解决问题