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共有 6 人回复了该问答325nm拉曼光谱测硅片问题请教
 回复norben发表于:2020/7/20 11:42:50悬赏金额:8积分 状态:未解决
请问有人用325nm的拉曼测过硅片没有。我测得时候全是噪音,500附近啥都没有,怎么对焦都不行,请问测过的人又没有什么技巧可以分享一下,怎么测硅信号。我主要是想知道表面信息,所以采用325nm。我的样品是多层膜,Si/Al2O3/Si/Al2O3...,每层只有几个纳米。大虾/大牛啥的,帮帮忙哈。非常感激~~~~~!!!!!!!!!!!!!
 回复  1# nanbowan  回复于:2020-07-20 13:46:50
楼主说的硅片是单晶硅吧?单晶硅容易氧化,在表面形成一层氧化硅的薄膜,325纳米激光的穿透深度浅,会被阻挡,所以不容易测出单晶硅在520的信号,还有就是用紫外的时候要采用紫外专用物镜。

虽然难测,但是还是可以测出来的再调一下光路试试吧。

不过测你的几个纳米厚的多层膜就很难逐层测出来了。利用光的穿透深度首先Si层都很难穿透,就算穿透了,拉曼在纵向的分辨率在2微米以上,对于几个纳米的厚度根本分辨不了。
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