大家好，近来在测试XRD时，遇到一些问题，找了好久也没弄明白，想向大家请教。
        首先，从XRD衍射图上，我们如何判断所测试的 薄膜的质量（结晶晶化的好坏、晶粒尺寸等等），特征峰的强度和半高宽能给我们提供薄膜样品的哪些信息呢。

        其次，我看到一些论文中，XRD衍射图在没有特征峰的位置几乎是一条直线，我所做的测试结果却是 一条弯曲的线条呢（如下面两幅图所示），是不是要扣除背底呢，那么如何扣除背底呢？请大家不吝赐教，谢谢！

    上图 为论文中的XRD衍射图

此图 为我的测试结果XRD衍射图（上下为同种物质）