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共有 3 人回复了该问答请问粉末样想做XPS深度分析该如何制备好呢？

回复vanpersie发表于：2020/6/27 16:41:26悬赏金额：5积分状态：未解决

如标题，压片好像说不太好，该怎么才好呢？

1# sydu 回复于：2020-07-03 16:41:26

我知道的深度分析方法有两种，是刻蚀和角分辨，这两种方法对粉末样品都不是很适合，x射线的束斑以及刻蚀束斑一般没法小到一个粉末颗粒的尺寸，也就是说分析得到的结果可能是多个颗粒的表面和不同深度的组合，分析出来的结果跟单纯的xps没什么两样。单纯粉末样品作profile的意义也就不大了，若样品可以制备成薄膜或者片状单晶或多晶的话，倒是可以考虑。

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