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共有 2 人回复了该问答
如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度
回复
zrl1708
发表于:2020/3/9 23:22:36
悬赏金额:
3积分
状态:
未解决
小弟见一篇文献提到是用基体中大的析出相的条纹来测样品的厚度,小弟不是很懂,请问大家有谁用过或者看过这个方面的,求指教. 曾经想用CBED,但是对于统计析出相的单位个数来说工作量是实在是太大. 望各位大侠予以指教,不胜感激!
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回复
1#
w4m0330
回复于:2020-03-11 09:15:36
你说的是等候条纹吧? 消光长度 乘以 条纹数目 来粗略判断厚度?
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