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X荧光光谱
X荧光光谱论坛
共有 4 人回复了该问答
X荧光检出铝合金Mg、Si元素有差别
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liupanpan_ccut
发表于:2020/2/29 8:15:37
悬赏金额:
9积分
状态:
未解决
大家好,我们的设备是岛津XRF-1800,检验AlSi10MgCu(原材料)时,Mg是0.32.Si是11.79,而我用光电直读时,Mg是0.35,Si是 10.10,请问这个为什么会有不同呢,我们也知道应该出哪个结果啊 (Mg:0.35-0.45,Si;9.0-11.0)
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回复
1#
qcz9999
回复于:2020-02-29 15:05:37
两种方法之间会存在误差,误差较大时,是否考虑标准曲线,制样问题
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XRF测定泡沫塑料吸附
请教熔片法制备含CaF2
有没有直接检测铁单质的仪
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