回复weiyongxing发表于：2011/12/22 11:28:10悬赏金额：
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我们采用的bruker D8 X衍射仪进行数据采集，如果要用全谱拟合精修结构，可以采用阵列探测器么？如果可以采用阵列探测器，那我们那采用的是3度万特的探测器得到的数据可以进行精修么。如果可以精修，那么下列仪器参数对精修结果影响大吗，应该如何设置？还有就是采用阵列探测器据说可以明显减少采集时间，那么每步扫描时间应该为多少比较合适？
1. Linear PSD
2Th angle range of LPSD (degree) (设为多少)
FDS angle （设为多少）
Beam spill， sample length （设为多少）
2. Axial convolutions
Full Axial Model
Source length （mm） （设为多少）
Sample length （mm） （设为多少）
RS length （mm） （设为多少）
Prim. Soller (degree） （设为多少）
Sec. Soller (degree) (设为多少）
N Bata (设为多少）
iangie 回复于：2011/12/26 11:27:00原文由 weiyongxing(weiyongxing) 发表:
谢谢
原文由 iangie(iangie) 发表:
楼主问的问题是FPA参数怎么设的问题, 我原来有个帖子专门讨论过FPA.
这些参数除了第一个, 没有哪个跟VÅNTEC detector有关, 证明他不清楚这些参数是什么意思. |
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其他参数都是测角仪仪器几何的参数, 把这些几何参数都测准了填进去, 扫个NIST1976标样验证一下.
我们这边也是D8A, 用FPA明显比其他数学函数峰形拟合得好.
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