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共有 13 人回复了该问答
如何设置能谱线扫结果按成分百分比显示(TIA软件)
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jwdeng
发表于:2020/9/18 14:23:17
悬赏金额:
10积分
状态:
未解决
在STEM模式下做能谱的线扫给出的都是计数率的曲线,在TIA软件里面进行定量以后,给出的是各个元素的计数率(Counts)随位置的变化曲线(如图)。请问能否设置成按成分百分比(质量或原子分数)的形式显示。
因为计数率明显是受样品厚度影响的。简单用计数率表示成分的变化感觉不太合适,不知道各位是怎么理解这个问题的。
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回复
1#
templus
回复于:2020-09-18 17:40:17
EDX?这个基本没戏。TIA这个线扫描或面扫描只能给出定性的比较。
定量的只能一个点一个点手动。
另外TIA也不能输入实验的k factor,只能用程序自带的计算出的,所以不太准。
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