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回复albert800922发表于：2020/7/15 10:51:29悬赏金额：6积分状态：未解决

我问，X射线荧光到底能不能测定地质样品中的金
她说，做10个PPM以上的应该没有问题，
我说，我在做PHA扫描时，用的21PPM的金标准样品，
发现扫描出的谱图，既然是折线，
她说，只要能扫描出峰来就OK了，
建议我延长扫描时间，对于角度扫描尽量用尽量高的样品来做。
然后再去做曲线试试，
不知道这些有观点，大家认同吗。请跟贴谈论，讨论就有积分奖励。

1# loaferfdu 回复于：2020-07-15 12:22:29

认同她的观点，首先必须要优化测试参数，使谱图出峰，没有谱峰什么都是空谈。有了谱峰才有FP法、工作曲线法这些手段得到或者提高定量分析的准确度。
理论上来，WDX做10ppm的金应该问题不大，21ppm更不应该有问题，如果你的谱图是折线，那么一般来说是由于测试时间过短，或者由于谱图处理的平滑参数选的不好。延长时间是基本的处理手段。
当然，话说回来，个人看法，地质样品是最复杂的样品了。你根本不知道目标元素可能是什么。也可能某些元素的存在对Au的测试有很大影响也未可知。

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